【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入
2025年06月03日16時00分 / 提供：@Press
カールツァイス株式会社(東京都千代田区麹町、ヴィンセント・マチュー社長)は、透過電子顕微鏡(TEM)用薄膜試料(ラメラ)の全自動作製に特化した集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)であるZEISS Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入します。本製品は昨年10月に海外で先行発表されたもので、この度、日本での提供を開始する運びとなりました。本システムは、半導体ラボのスループットと効率を最大化するように設計されており、オペレーターの介入なしに、バルク試料からTEMグリッドへのTEMラメラ処理を自動化します。
画像1: https://www.atpress.ne.jp/releases/438272/LL_img_438272_1.jpg
Crossbeam 550 Samplefab
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