東大など、CNFの欠陥構造は表面にある原子レベルの凹みであることを確認

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東京大学(東大)と京都大学(京大)は10月7日、セルロースナノファイバー(CNF)の欠陥構造の精密な解析を試みた結果、CNF表面には原子レベルの「凹み」が多く存在していること、その凹みはCNFの全長の少なくとも30～40％を占めていることを発見し、中でも折れ曲がりの付近で発生している凹みは、そのほかの場所に生じている凹みよりも深く長い傾向があることも見出したと発表した。